Manuel Fregolent, Francesco Bergamin, Davide Favero, Carlo De Santi, Christian Huber, Gaudenzio Meneghesso, Enrico Zanoni e Matteo Meneghini hanno ricevuto il Best Paper Award al “35th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)” tenutosi a Parma dal 23 al 26 settembre per il paper “OFF-state Breakdown and Threshold Voltaggio Stability of Vertical GaN-on-Si MOSFET trench”. Come parte del premio, il paper è stato invitato al “IEEE International Reliability Physics Symposium 2025” che si terrà dal 30 marzo al 3 aprile a Monterey, California (USA).
Best Paper Award all’ESREF 2024
